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COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合荧光X射线膜厚仪COSMOS-2X可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、 二层同时
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行
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日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
参数:基本参数:型号:FT150(标准型)FT150h(高能量型)FT150L(大型线路板对应)测量元素:原子序数13(Al)~92(U) X射线源:管电压:45 kV
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EX-3000日本荧光X射线膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合产品名称:日本荧光X射线膜厚仪 EX-3000可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜
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理学X射线荧光测硫仪-micro Z Sulfur
主要特点:1.以较低的功率达到测硫0.3ppm的检测下限,测氯0.22ppm的检测下限。2. 六位样品自动进样系统提高仪器使用效率,节省人员工时成本。3. X光源照射面积大,分析均匀稳定4.扣
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列
技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法; 2.原始射线从上至下; 3.X-射线
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测厚计 高精度橡胶测厚计
测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数:测程:0-10mm分度值:0.01mm工作台升降最大行程:40mm工作台外径: 70mm测头直径:6mm块规规格(厚度
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测厚计 高精度橡胶测厚计
量范围:0-10mm;分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa所需质量:63±7g 上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa 量范围
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X射线测硫仪
主要技术参数及指标1、测硫范围: 7ppm~5%。2、精密度: a:重复性(r): <0.02894(X+0.1691);b:再现性(R): <0.1215(X
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代
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